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半导体可靠性测试方法高低温试验箱

半导体可靠性测试方法高低温试验箱

2023/06/12 14:28

  

阅读:183

应用领域
电子/电气
检测样品
电子元器件产品
检测项目
半导体可靠性测试
参考标准
GB11158-2008

方案详情

属气候模拟箱,适用于检测各种产品、各种材料或电器、仪器、仪表、电子元器件的在高温、低温或湿热环境下的可靠性、适应性指标的设备。

产品配置单

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半导体可靠性测试方法高低温试验箱.doc

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