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电子元件低温高温快速变化性能测试方法温度冲击试验箱

电子元件低温高温快速变化性能测试方法温度冲击试验箱

2023/07/20 11:05

  

阅读:172

应用领域
电子/电气
检测样品
电子元器件产品
检测项目
电子元件低温高温快速变化性能测试
参考标准
GJB360A-96

方案详情

冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验,是将试验样品交替暴露于低温和高温空气(或合适的惰性气体)中,使其经受温度快速变化的影响。用以确定元件,设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力。

产品配置单

前处理设备

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