半导体芯片冷热冲击试验方法高低温冲击试验箱
2023/08/19 12:43
阅读：294
应用领域
半导体
检测样品
特殊工艺
检测项目
半导体芯片冷热冲击试验
参考标准
JESD22-A104
方案详情
芯片在生产过程中，需要对其进行冷热冲击试验。一般情况下，民用芯片的正常工作温度范围是 0℃-70℃，其他芯片性能更高，正常工作温度范围是 -55℃-125℃。以上温度范围都是芯片工作下的温度范围，当芯片不工作时，可以承受超过 200℃ 的焊接温度。
产品配置单
下载解决方案
半导体芯片冷热冲击试验方法高低温冲击试验箱.doc
免费下载
相关产品
拨打电话
留言咨询
