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电子元器件高温加速老化试验方法

电子元器件高温加速老化试验方法

2024/11/25 09:35

  

阅读:203

应用领域
电子/电气
检测样品
电子元器件产品
检测项目
电子元器件高温加速老化试验
参考标准
GB/T2423.40-1997

方案详情

通过提高温度应力,加速电子元器件的老化过程,在短时间内暴露其潜在缺陷,评估其在高温环境下的可靠性和稳定性,为产品的质量控制、筛选次品以及确定合理的质保期提供依据。

产品配置单

前处理设备

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