HAST 老化试验箱评估电路板性能变化试验方法
2024/12/31 08:51
阅读：167
应用领域
电子/电气
检测样品
电子元器件产品
检测项目
评估电路板性能变化试验
参考标准
GB/T 2423.40
方案详情
随着电子产品在复杂环境下的应用日益广泛，电路板作为其核心组件，其在高温、高湿度环境下的可靠性备受关注。HAST（Highly Accelerated Stress Test）老化试验箱能够模拟环境条件，评估电路板的性能变化。
产品配置单
前处理设备
HAST老化试验箱PCT高温高压加速老化试验箱
HAST-400-1
荣计达仪器
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