高压加速老化寿命箱测试半导体器件老化性能的方法
2025/06/12 09:02
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应用领域
半导体
检测样品
半导体材料
检测项目
半导体器件老化性能
参考标准
GB/T2423.40-1997
方案详情
HAST高压加速老化试验箱主要用于模拟材料在高温、高压、高湿环境下性能运行可靠性的专用试验箱，老化箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,适用于国防材料、航天材料、电子零配件、半导体、线路板等行业。
产品配置单
前处理设备
HAST老化试验箱PCT高温高压加速老化试验箱
HAST-400-1
荣计达仪器
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