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半导体

半导体器件恒温恒湿耐湿热性能测试方法

样品:半导体材料
检测项:半导体器件耐湿热性能测试方法
参考标准:HJ 717—2014
产品配置:1台

恒温恒湿试验箱可程式高低温测试箱

BR-6

荣计达仪器

产品配置1台

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半导体封装测试:PCT老化箱评估抗湿气能力

样品:半导体材料
检测项:半导体封装测试
参考标准:HJ 717—2014
产品配置:1台

沥青混凝土拉伸试验机

WDW-10

荣计达仪器

产品配置1台

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高压加速老化寿命箱测试半导体器件老化性能的方法

样品:半导体材料
检测项:半导体器件老化性能
参考标准:HJ 717—2014
产品配置:1台

HAST老化试验箱PCT高温高压加速老化试验箱

HAST-400-1

荣计达仪器

产品配置1台

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高压加速老化试验箱测试半导体器件可靠性方法

样品:可靠性测试
检测项:半导体器件可靠性
参考标准:HJ 717—2014
产品配置:1台

PCT 高压加速老化试验箱

PCT

荣计达仪器

产品配置1台

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PCT 老化试验箱测试光伏组件的可靠性耐久性方法

样品:其他
检测项:测试光伏组件的可靠性耐久性
参考标准:HJ 717—2014
产品配置:1台

荣计达hast加速老化试验箱

HAST-2026

荣计达仪器

产品配置1台

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半导体封装抗湿气能力测试方法PCT高压加速老化试验箱

样品:其他
检测项:半导体封装抗湿气能力测试
参考标准:HJ 717—2014
产品配置:1台

PCT 高压加速老化试验箱

PCT

荣计达仪器

产品配置1台

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半导体芯片冷热冲击试验方法高低温冲击试验箱

样品:特殊工艺
检测项:半导体芯片冷热冲击试验
参考标准:HJ 717—2014
产品配置:2台

高低温拉力试验箱材料力学性能测试设备

GDW-90L

荣计达仪器

产品配置2台

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半导体芯片高低温湿热性能测试方法

样品:拉晶铸锭
检测项:半导体芯片高低温湿热性能
参考标准:HJ 717—2014
产品配置:4台

高低温循环试验箱

GDWXH-2026

荣计达仪器

产品配置4台

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半导体行业高低温老化性能测试方法

样品:电子元器件产品
检测项:半导体行业高低温老化性能测试
参考标准:HJ 717—2014
产品配置:2台

热老化试验箱电气绝缘材料耐热老化测试箱

GWY-500L

荣计达仪器

产品配置2台

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测试半导体器件性能方法高低温拉力试验机

样品:晶体结构表征
检测项:测试半导体器件性能方法
参考标准:HJ 717—2014
产品配置:1台

低冰点沥青混合料冰点试验机

WDW-10R

荣计达仪器

产品配置1台

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半导体模拟高原低气压试验方法

样品:其他
检测项:半导体模拟高原低气压试验
参考标准:HJ 717—2014
产品配置:1台

液冷板高低温试验机荣计达仪器

RJD-GDW-2025

荣计达仪器

产品配置1台

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高压加速老化测试箱测试半导体封装之抗湿气能力方法

样品:其他
检测项:测试半导体封装之抗湿气能力
参考标准:HJ 717—2014
产品配置:5台

热老化试验箱电气绝缘材料耐热老化测试箱

GWY-500L

荣计达仪器

产品配置5台

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